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影響半微量分析天平稱量結(jié)果的因素有:
1、靜電的影響:會使稱量結(jié)果無法預(yù)料,或重或輕;
2、使稱盤接地、增加環(huán)境濕度;
3、空氣浮力的影響:樣品在空氣中其重量受浮力影響,該浮力的大小取決于樣品的體積,大氣壓力,空氣密度,溫度,濕度及海拔高度;
4、磁力的影響:磁性樣品會嚴(yán)重影響天平的重復(fù)性指標(biāo),對樣品予以退磁或用厚金屬板加以屏蔽。
半微量分析天平的使用注意事項:
1、拆下天平右側(cè)的傳感器保護(hù)螺桿,蓋上適配器盒內(nèi)的防塵蓋檢查防風(fēng)罩是否正常(無防風(fēng)罩例外)將秤盤輕輕放入。
2、請將電子天平放置于水平、穩(wěn)定無振動的臺面上使用。
3、避免將電子天平放置于溫度變化過大或空氣流動劇烈的場所,如日光直射或空調(diào)出風(fēng)口。
4、不得在有腐蝕性的氣體或液體,以及影響儀器正常工作的電場和磁場的地方使用。
5、調(diào)整秤腳使水平泡處于中心位置。
幸運電子提供的半微量分析天平配備新型高度集成式電磁傳感器,所有型號可自動內(nèi)部校準(zhǔn),具有高精度和高可重復(fù)性的特點。且天平均配有一個很大的圖形顯示屏,便于用戶操作。
常州市幸運電子設(shè)備有限公司(m.cweex.cn)主營:鹵素水分儀、鹵素水分儀測定、鹵素快速水分儀、便攜式水分儀、水分計
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